Nanoscope Analysis(AFM數(shù)據(jù)離線分析軟件)

在實(shí)驗(yàn)室做研究的各位用戶一定需要一款軟件幫助分析各種數(shù)據(jù)，尤其是一些做秘密研究的更是不能夠在有網(wǎng)絡(luò)的情況下使用，這款nanoscope analysis就是非常不錯(cuò)的AFM離線數(shù)據(jù)分析軟件，如果是一位實(shí)驗(yàn)室工作人員，那么一定知道AFM是什么，如果你是不小心點(diǎn)進(jìn)來(lái)的那么小編告訴你，這就是原子力顯微鏡，是眾多現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室必備的一個(gè)東西。而我們的實(shí)驗(yàn)人員，可以將顯微鏡拍攝下來(lái)的圖片使用我們的軟件打開(kāi)，然后用戶就可以使用nanoscope analysis的各種工具和功能對(duì)各種東西進(jìn)行分析，對(duì)于平面狀態(tài)下無(wú)法看清的東西，你還可以生成三維圖片進(jìn)行查看，更清晰更容易看清顯微下的各種物質(zhì)和細(xì)菌等等，有需要的小伙伴快快下載體驗(yàn)吧！

Nanoscope Analysis功能介紹

1、分析功能
分析函數(shù)關(guān)系到分析在實(shí)時(shí)模式中捕獲的圖像的表面行為。這些命令稱為圖像處理或分析命令。這些命令包含用于分析、修改和存儲(chǔ)收集到的數(shù)據(jù)的視圖、選項(xiàng)和配置。分析可以是自動(dòng)化的(也可以是自動(dòng)程序)或者手工完成。一般來(lái)說(shuō)，分析命令提供了量化樣品表面特性的方法
2、二維圖像
二維圖像分析以二維的角度顯示所選圖像的顏色編碼高度信息。二維圖像分析是對(duì)納米范圍分析的默認(rèn)分析，當(dāng)圖像最初被打開(kāi)時(shí)，它總是在二維圖像中呈現(xiàn)。
3、軸承的分析
軸承分析提供了一種繪制和分析樣品表面高度分布的方法。軸承分析可應(yīng)用于整個(gè)圖像，或?qū)D像的選定區(qū)域，使用橡膠帶箱。此外，選擇區(qū)域內(nèi)的區(qū)域可以通過(guò)使用“停止帶”來(lái)移除分析中的多余數(shù)據(jù)。
4、深度
為了分析特征的深度，你有眾多的選擇來(lái)測(cè)量不同高度的兩個(gè)主要特征之間的高度差。深度分析主要是為自動(dòng)比較兩個(gè)相似的樣本站點(diǎn)的特征深度而設(shè)計(jì)的(例如，在分析大量相同硅晶片的腐蝕深度時(shí))。

軟件亮點(diǎn)

1、表面拓?fù)鋱D像重建
Nanoscope Analysis可以將從掃描探針顯微鏡獲取的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為高分辨率的表面拓?fù)鋱D像。這些圖像可以顯示樣品表面的形貌和拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。
2、原子分辨成像
該軟件可以實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的成像，使研究人員能夠觀察和分析納米尺度上的原子排列和表面結(jié)構(gòu)。
3、表面力譜學(xué)
Nanoscope Analysis還可以進(jìn)行表面力譜學(xué)分析，通過(guò)測(cè)量和分析掃描探針顯微鏡在樣品表面施加的力，來(lái)研究材料的力學(xué)性質(zhì)和表面力學(xué)行為。
4、電學(xué)特性分析
該軟件還可以用于電學(xué)特性的研究，包括電導(dǎo)率、電容和電勢(shì)分布等相關(guān)參數(shù)的測(cè)量和分析。